監(jiān)測(cè)和控制電鍍?nèi)芤褐械慕饘俸繉?duì)涂料工藝至關(guān)重要。如果鍍液中的金屬濃度過高或過低，則該過程可能會(huì)產(chǎn)生較差的表面光潔度，如起泡或顏色不均勻，并對(duì)涂層部件的性能產(chǎn)生不利影響。

現(xiàn)場(chǎng)快速，簡(jiǎn)單分析（由非實(shí)驗(yàn)室人員進(jìn)行）的要求使得便攜式能量色散X射線熒光（EDXRF）光譜分析成為理想的分析技術(shù)。

儀器儀表

與其他可用技術(shù)不同，XRF快速，簡(jiǎn)單，不需要使用化學(xué)品。結(jié)果可在幾秒鐘內(nèi)獲得，它是一種非破壞性技術(shù)，任何操作員都可以在較少的培訓(xùn)下使用。

X-MET8000優(yōu)化的高性能X射線管與日立高科技的大面積硅漂移探測(cè)器（SDD）相結(jié)合，可提供常規(guī)控制電鍍液成分所需的速度和性能。其整體密封（IP54等級(jí)）和工業(yè)設(shè)計(jì)確保即使在惡劣的環(huán)境中也能**限度地防止灰塵和濺水進(jìn)入。憑借其大圖標(biāo)的直觀用戶界面，它易于使用，并且可以戴手套操作。

X-MET8000具有多種功能，使用戶能夠監(jiān)控電鍍槽液的成分，識(shí)別污染物，并確定電鍍部件的涂層厚度。X-MET的重量?jī)H為1.5千克（包括電池），非常便攜，可以在整個(gè)工廠使用，從檢查進(jìn)料（合金驗(yàn)證）到最終部件的鍍層厚度。

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樣品制備

樣品制備很簡(jiǎn)單：只需將溶液倒入裝有Mylar®薄膜的樣品杯中，將其放在臺(tái)式支架的安全窗口中，然后按下X-MET的觸發(fā)器即可開始分析。

注意：安全窗口也配有聚酯薄膜，如果樣品杯中有泄漏，可以防止溢出到X-MET儀器上。

不使用時(shí)，臺(tái)式支架可以折疊起來并安全放置，需要的存儲(chǔ)空間較小。

表現(xiàn)和結(jié)果

X-MET可用于確定單元素和多元素解決方案的組成。本節(jié)中顯示的示例突出顯示了X-MET提供的典型性能。

通過測(cè)量至少3個(gè)具有已知成分的樣品來建立每種應(yīng)用的簡(jiǎn)單經(jīng)驗(yàn)校準(zhǔn)，以建立金屬含量和X射線信號(hào)之間的關(guān)系。測(cè)量每種溶液30秒。

總結(jié)

經(jīng)過校準(zhǔn)，Hitachi High-Tech的X-MET8000可為各種電鍍應(yīng)用提供準(zhǔn)確且可重復(fù)的解決方案分析。

X-MET的易用性和堅(jiān)固性使其成為車間的理想工具，用于零件或部件的進(jìn)貨檢驗(yàn)，以及電鍍工藝和最終質(zhì)量控制。

通過幾秒鐘即可獲得結(jié)果，可快速調(diào)節(jié)鍍液的化學(xué)成分，防止不符合規(guī)格的鍍層部件被剔除，從而**限度地提高生產(chǎn)率并節(jié)省成本。